Leal-Marin, S. M.; Estupiñán-Duran, H. A. Análisis Por EIS, Mott Schottky Y EFM De La Estabilidad electroquímica Y Propiedades dieléctricas De Recubrimientos Ca-P-Ag Y Ca-P-Si-Ag Obtenidos Por oxidación Por Plasma electrolítico En Ti6Al4V. Rev.Fac.Ing.Univ.Antioquia 2017, 9-19.