Leal-Marin, S. M., & Estupiñán-Duran, H. A. (2017). Análisis por EIS, Mott Schottky y EFM de la estabilidad electroquímica y propiedades dieléctricas de recubrimientos Ca-P-Ag y Ca-P-Si-Ag obtenidos por oxidación por plasma electrolítico en Ti6Al4V. Revista Facultad De Ingeniería Universidad De Antioquia, (83), 9–19. https://doi.org/10.17533/udea.redin.n83a02