GUERRERO BERMÚDEZ, J. E.; VALDIVIESO GONZÁLEZ, L. G.; TEPICHÍN RODRÍGUEZ, E. Medida de desplazamientos micrométricos mediante correlación de transformada conjunta no lineal de patrones de speckle. Revista Facultad de Ingeniería Universidad de Antioquia, [S. l.], n. 68, p. 20–26, 2013. DOI: 10.17533/udea.redin.17037. Disponível em: https://revistas.udea.edu.co/index.php/ingenieria/article/view/17037. Acesso em: 5 feb. 2025.