S. M. Leal-Marin y H. A. Estupiñán-Duran, «Análisis por EIS, Mott Schottky y EFM de la estabilidad electroquímica y propiedades dieléctricas de recubrimientos Ca-P-Ag y Ca-P-Si-Ag obtenidos por oxidación por plasma electrolítico en Ti6Al4V», Rev.Fac.Ing.Univ.Antioquia, n.º 83, pp. 9–19, jun. 2017.