Leal-Marin, S. M., y H. A. Estupiñán-Duran. «Análisis Por EIS, Mott Schottky Y EFM De La Estabilidad electroquímica Y Propiedades dieléctricas De Recubrimientos Ca-P-Ag Y Ca-P-Si-Ag Obtenidos Por oxidación Por Plasma electrolítico En Ti6Al4V». Revista Facultad De Ingeniería Universidad De Antioquia, n.º 83, junio de 2017, pp. 9-19, doi:10.17533/udea.redin.n83a02.