ESTUDIO DE LA ESTRUCTURA DE RECUBRIMIENTOS DE SILICIO DEPOSITADOS MEDIANTE PROYECCIÓN TÉRMICA POR LLAMA OXIACETILÉNICA

Autores/as

  • Mónica Vallejo Pérez Estudiante
  • Isabel Cristina Gómez García Estudiante
  • Daniel Zuluaga Castrillón Estudiante
  • Juan Fernando Hernández Ruiz Estudiante
  • Fabio Vargas Galvis Profesor
  • María Esperanza López Gómez Profesora

DOI:

https://doi.org/10.17533/udea.rcm.19586

Resumen

Se estudió el efecto del tipo de llama, del tipo de sustrato y de la distancia de proyección sobre la porosidad y el espesor de recubrimientos de silicio depositados por medio de proyección térmica por llama oxiacetilénica. Para la elaboración de los recubrimientos se utilizó una llama reductora, una neutra y una oxidante, con el objetivo de calentar y posteriormente proyectar las partículas de silicio sobre sustratos de aluminio y de Ti6Al4V, a una distancia de proyección de 15 cm y 8.5 cm. Los resultados indican que los recubrimientos depositados a 8.5 cm son más compactos y que la utilización de una llama neutra reduce ligeramente la porosidad y permite tener capas más gruesas. Así mismo, los recubrimientos depositados sobre sustratos de Ti6Al4V presentaron menor porosidad y menos fallas estructurales que los depositados sobre aluminio.
|Resumen
= 84 veces | PDF
= 89 veces|

Descargas

Los datos de descargas todavía no están disponibles.

Biografía del autor/a

Mónica Vallejo Pérez, Estudiante

Estudiante de Ingeniería de Materiales, Universidad de Antioquia. Medellín, Colombia

Isabel Cristina Gómez García, Estudiante

Estudiante de Ingeniería de Materiales, Universidad de Antioquia. Medellín, Colombia

Daniel Zuluaga Castrillón, Estudiante

Estudiante de Ingeniería de Materiales, Universidad de Antioquia. Medellín, Colombia

Juan Fernando Hernández Ruiz, Estudiante

Estudiante de Ingeniería de Materiales, Universidad de Antioquia. Medellín, Colombia

Fabio Vargas Galvis, Profesor

 PhD en Ciencias, Profesor Departamento de Ingeniería de Materiales, Universidad de Antioquia. Medellín, Colombia.

María Esperanza López Gómez, Profesora

PhD en Ciencia y Tecnología de Materiales, Profesora Departamento de Ingeniería de Materiales, Universidad de Antioquia. Medellín, Colombia.

Descargas

Publicado

2014-05-21

Cómo citar

Vallejo Pérez, M., Gómez García, I. C., Zuluaga Castrillón, D., Hernández Ruiz, J. F., Vargas Galvis, F., & López Gómez, M. E. (2014). ESTUDIO DE LA ESTRUCTURA DE RECUBRIMIENTOS DE SILICIO DEPOSITADOS MEDIANTE PROYECCIÓN TÉRMICA POR LLAMA OXIACETILÉNICA. Revista Colombiana De Materiales, (5), 145–151. https://doi.org/10.17533/udea.rcm.19586

Artículos más leídos del mismo autor/a

1 2 > >> 

Artículos similares

1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 > >> 

También puede {advancedSearchLink} para este artículo.