Análisis estructural del sistema Cu-In-Se-S usando el método de Rietveld
DOI:
https://doi.org/10.17533/udea.rcm.338664Palabras clave:
policristalinas, semiconductor, RietveldResumen
El método de Rietveld, debido a su versatilidad es uno de los más usados y eficientes para la determinación de estructuras policristalinas, y el cálculo de las posiciones atómicas. Para realizar el refinamiento de estructuras cristalinas se requieren de una serie de pasos, como son: adquisición de datos, búsqueda de la fase isoestructural, indexación de los patrones, simulación de la estructura y por último el ajuste de la estructura. En este trabajo el método de Rietveld se usó para el refinamiento de la estructura cristalina de un semiconductor, que es la aleación CuInSeS, con diferentes proporciones de Se-S, que es usada para fabricar celdas solares. Los resultados obtenidos de los refinamientos de las estructuras cristalinas, fueron empleados para estudiar, la variación estructural en los distintos porcentajes de Se-S, incidiendo de manera directa en las propiedades físicas y químicas de estos materiales, debido a que estos dependen de diferentes parámetros como la concentración, la ubicación de los átomos, la temperatura, entre otros.
Descargas
Citas
A. Altomare, F. Capitelli, N. Corriero, C. Cuocci, A. Falcicchio, A. Moliterni and R. Rizzi. The Rietveld Refinement in the EXPO Software: A Powerful Tool at the End of the Elaborate Crystal Structure Solution Pathway, Crystals, 8, 203, 2018.
Curso Intensivo sobre “Determinación y Refinamiento Estructural por el Método de Rietveld de Materiales policristalinos”. Mérida del 2 al 5 de mayo de 2000. CONICIT - PROGRAMA DE LABORATORIOS NACIONALES.
D. K. Smith. “Computer Analysis of Diffraction Data”, Reviews in Mineralogy, 20, pp. 183 – 216. 1989.
L.B. McCusker, R.B. Von Dreedle, D.E.Cox, D. Louër and P. Scardi “Rietveld Refinements Guidelines”, J. Appl. Cryst, 32, pp. 36–50, 1999.
J. E. Post, D. L. Bish, “Rietveld Refinement of Cristal Structures Using Powder X-Ray Difraction Data”, Reviews in Mineralogy, 20, pp. 277 – 308, 1989.
A. Lopez, B. Frontal, J. Henao, E. mora, W. Giriat and R. Vargas. “Structural and optical properties of the quaternary alloys CuInSe2xS2(1-x)”Inst . Phys. Conf. Ser. Nº 152: section A: Crystal Growth and Characterization. Paper Presented at the 11th Int. Conf. On ternary and multinary Compounds, ICTMC - 11, Saldford, 8 - 12 September 1997.
International Tables for X - Ray Crytallography, published for The Union Of Crystallography by The Kynoch Press, volume I, pp. 428 – 429, 2006.
Rashmi and D. K. Sun. “X - Ray powder diffraction study of CuInSeTe”,Powder Diffraction, (2000), 15, 65 - 68.
M. Louër and D. Louër, “The use of pc`s ab initio structure determination from powder difraction data”, advances in X – Ray, 37, pp. 21 – 25, 1994.
Descargas
Publicado
Cómo citar
Número
Sección
Licencia
Derechos de autor 2019 Revista Colombiana de Materiales

Esta obra está bajo una licencia internacional Creative Commons Atribución-NoComercial-CompartirIgual 4.0.