USO DE TRAZADORES METÁLICOS EN EL ESTUDIO DEL CRECIMIENTO DE PELÍCULAS NANOPOROSAS EN ALUMINIO

Resumen

 Trazadores metálicos de wolframio, hafnio, molibdeno y neodimio son usados como modelos para estudiar el comportamiento de elementos aleantes durante el anodizado de aleaciones comerciales de aluminio. Capas delgadas de aleaciones de Al-W, Al-Hf, Al-Mo y Al-Nd fueron depositadas catódicamente sobre sustratos de aluminio electropulido y sobre ellas se depositó además otra capa de aluminio. Las muestras fueron luego anodizadas a densidad de corriente constante en acido fosfórico con el propósito de incorporar especies de los elementos aleantes a las películas nanoporosas. La distribución de los trazadores metálicos fue estudiada por microscopia electrónica de barrido (SEM) y de transmisión (TEM) y sus cantidades fueron detectadas por espectroscopía de iones retrodispersados de Rutherford (RBS). La distribución de cada uno de los elementos aleantes en las películas nanoporas es distinta. Iones Mo6+ y W6+, los cuales migran más lentamente que los iones de Al3+ no alcanzan la base del poro y se quedan dentro de la capa barrera, es decir no hay pérdida de iones en la solución. En contraste iones Hf4+ y Nd3+, los cuales migran más rápidamente que los iones de Al3+, alcanzan la base del poro y se pierden en la solución. La pérdida de iones de Nd3+ es mayor ya que estos iones migran más rápido que los iones Hf4+. El comportamiento de los trazadores metálicos y su distribución final en las películas nanoporosas de aluminio está en concordancia con lo predicho por el nuevo modelo del flujo plástico de la alúmina.