CHARACTERIZATION OF ZnO NANOFILMS DEPOSITED BY CBD-AμW

Joel Díaz Reyes; Javier Martínez Juárez; David Hernández de la Luz

doi:10.17533/udea.rcm.19371

Autores/as

Joel Díaz Reyes Benemérita Universidad Autónoma de Puebla
Javier Martínez Juárez Instituto Politécnico Nacional
David Hernández de la Luz Benemérita Universidad Autónoma de Puebla

DOI:

https://doi.org/10.17533/udea.rcm.19371

Palabras clave:

ZnO, Semiconductor de banda ancha, Deposición por baño químico, Rayos X

Resumen

Las propiedades físicas de las nanopelículas de ZnO son estudiadas como una función de la concentración de urea en la solución de crecimiento. ZnO es crecido mediante la técnica de deposición de baño químico activado por microondas (CBD-A μW). La estequiometria química se determinó por mediciones de espectroscopia de dispersión de energía (EDS) de las nanopelículas de ZnO. Mediante dispersión de rayos X se obtiene nanopelículas de ZnO policristalina una estructura tipo hexagonal wurtzita. Por espectroscopia Raman es confirmada la estructura cristalina tipo wurtzita de las películas de ZnO y sus espectros Raman muestran 4 picos principales en 444, 338, 104 y 78 cm-1 que corresponden a los modos E2 high, (E2 high - E2low), E2 low, que están asociados a las subredes del oxígeno y de zinc y una banda no identificada.

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Biografía del autor/a

Joel Díaz Reyes, Benemérita Universidad Autónoma de Puebla

Ph. D., Benemérita Universidad Autónoma de Puebla, Puebla, México

Javier Martínez Juárez, Instituto Politécnico Nacional

Ph. D., CIBA, Instituto Politécnico Nacional. Tepetitla, Tlaxcala, México

David Hernández de la Luz, Benemérita Universidad Autónoma de Puebla

Ph. D., Benemérita Universidad Autónoma de Puebla, Puebla, México

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