Interacción punta-muestra dieléctrica en microscopía de fuerza electrostática
DOI:
https://doi.org/10.17533/udea.redin.14929Palabras clave:
Electrostática, inducción de carga, gradiente de fuerza, AFM, EFM, electret, cantilever, viga voladiza, dieléctricos cargadosResumen
La microscopía de fuerza electrostática es una técnica de medición de propiedades eléctricas locales de materiales. Las mediciones de gradiente de fuerza eléctrica sobre muestras dieléctricas son sensibles no sólo a la distribución de carga inicial en la misma sino también a la carga inducida por la punta de prueba conductora. Interpretar las contribuciones de cada efecto de forma independiente constituye un reto vigente de la técnica. Se introduce un modelo teórico que permite estudiar los efectos de carga e inducción paramuestras y puntas de prueba con geometrías reales. El mismo modelo a partir de mediciones de gradiente de fuerza estima la carga inicial de la muestra. Las estimaciones de gradiente de fuerza reproducen mediciones experimentales realizadas en muestras dieléctricas cargadas.
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